W 157-7/84
Рид, С. Дж. Б.
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / С. Дж. Б. Рид; пер. с англ. Д. Б. Петрова [и др.]. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с., [4] л. ил. : ил. - (Мир наук о Земле). - Библиогр.: с. 205-215. - Предм. указ.: с. 216-219. - ISBN 978-5-94836-177-2 : 140.00 р., 365.82 р.ББК Д3с22
Рубрики: Рентгеноспектральный анализ
Электронная микроскопия
Геология
Примірників всього: 3
ХР (2), ЧЗ (1)
Свободны: ХР (2), ЧЗ (1)