W 159-2/168
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : [учеб. пособие для вузов по направлениям "Металлургия" и "Физ. материаловедение"] / М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др. ; под общ. ред. М. М. Криштала]. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. ; 22 см. - (Мир физики и техники ; II-15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 125.00 р.ББК В338.28я7-1 + В344-1я7-1
Рубрики: Электронная микроскопия
Рентгеноспектральный анализ
Дод.точки доступу:
Криштал, Михаил Михайлович; Ясников, Игорь Станиславович; Полунин, Виктор Иванович
Примірників всього: 2
ХР (1), ЧЗ (1)
Свободны: ХР (1), ЧЗ (1)