W 164-9/279
Альфорд, Терри Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок / Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер ; пер. с англ. А. Н. Образцов, М. А. Долганов ; науч. ред. рус. изд. А. Н. Образцов ; [Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям]. - М. : Науч. мир, 2012. - 390 с. : ил. ; 25 см. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники). - На пер. 1-й авт.: Алфорд Терри Л. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91522-225-9 : 180.00 р.ББК В371.26,0 + Ж3-1с3
Рубрики: Пленки тонкие
Наноструктурные материалы
Дод.точки доступу:
Фельдман, Леонард Л; Майер, Джеймс В; Образцов, Александр Николаевич \ред.\; Долганов, М.А. \пер.\
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1)