W 167-7/141 т. 1
Российская конф. по электронной микроскопии (25 ; 2014 ; Черноголовка).
XXV Российская конференция по электронной микроскопии и 2-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов" : РКЭМ-2014, 2 июня-6 июня 2014 г. : тез. докл. - Черноголовка : ИПТМ РАН, 2013 - . - В надзаг.: Рос. акад. наук, Науч. совет РАН по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектронники и особочистых материалов Рос. акад. наук, Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова Рос. акад. наук.
Т. 1. - 2013. - XVI, 339, [9] с. : ил. - Библиогр. в конце докл. - ISBN 978-5-89589-069-1 : 180.00 р.ББК В338.28я431(2)
Рубрики: Электронная микроскопия
Дод.точки доступу:
Российская конф. по электронной микроскопии(25 ; 2014 ; Черноголовка); Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов(2 ; 2014 ; Черноголовка)
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1)