Головна Спрощенний режим Опис
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Каталог книг- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
у знайденому

Для печати информации о книге отметьте ее галочкой и нажмите кнопку «печать»

    Поисковый запрос: <.>S=Микроскопия<.>

    Общее количество найденных документов: 32

    Показані документи с 1 за 30

1.
W 153-5/101

    Пантелеев, В.
    Компьютерная микроскопия / В. Пантелеев, О. Егорова, Е. Клыкова. - М. : Техносфера, 2005. - 303 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 302-303. - 2000 прим.. - ISBN 5-94836-025-3 : Б. ц. р.
ББК В342.8с31
Рубрики: Микроскопия


Дод.точки доступу:
Егорова, О.; Клыкова, Е.
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі
2.
W 153-6/110

    Маев, Роман Григорьевич.
    Акустическая микроскопия / Р. Г. Маев. - М. : Торус Пресс, 2005. - 383 с. : ил. - Библиогр.: с. 326-379. - 400 прим.. - ISBN 5-94588-031-0 : Б. ц. р., Б.ц р.
ББК Ж3-1с322
Рубрики: Микроскопия

Примірників всього: 2
ХР (1), ЧЗ (1)
Свободны: ХР (1), ЧЗ (1) Знайти схожі
3.
W 156-4/11

    Кларк, Эшли Р.
    Микроскопические методы исследования материалов / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженова ; Рос. акад. наук, Ин-т синтет. полимер. материалов им. Н. С. Ениколопова. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил. ; 25 см. - (Мир материалов и технологий ; VI-13). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-121-5 : Б. ц. р.
ББК Ж304-1с341 + Ж366.04-1с341
Рубрики: Материалы
   Микроскопия



Дод.точки доступу:
Эберхардт, Колин Н
Примірників всього: 2
ХР (1), ЧЗ (1)
Свободны: ХР (1), ЧЗ (1) Знайти схожі
4.
W 156-5/30

    Егорова, Ольга Владимировна.
    Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей / О. В. Егорова. - Изд. 2-е, перераб. - М. : Техносфера, 2007. - 357 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 355-357. - ISBN 978-5-94836-129-1 : 290.03 р., Б. ц. р.
ББК В342.8,0
Рубрики: Микроскопия
   Микроскопы


Примірників всього: 3
ХР (1), ЧЗ (1), АБФ (1)
Свободны: ХР (1), ЧЗ (1), АБФ (1) Знайти схожі
5.
W 53-40/84

    Stehli, Georg.
    Mikroskopie für Jedermann. Eine methodische erste Einführungin die Mikroskopie mit praktischen Übungen : zugleich eine Anleitung Gebrauch des Kosmos-Arbeitskasterns "Mikroskopie" / G. Stehli. - Stuttgart : Franckh'sche, cop. 1934. - 73 S. : il. - (Handbücher für die praktische naturwissensch/ Arbeit. ; Bd. 1 ). - Библиогр.: с. 68-70. - 708.00 р.
ББК Б.с251.31
Рубрики: Микроскопия

Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі
6.
W 160-1/139

    Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур (г. Нижний Новгород). - М. : Техносфера, 2009. - 143 с. : ил. ; 22 см. - (Мир физики и техники ; II-02). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 978-5-94836-236-6 : 90.00 р.
ББК В338.28я73-1
Рубрики: Микроскопия
   Микроскопы


Примірників всього: 2
ХР (1), ЧЗ (1)
Свободны: ХР (1), ЧЗ (1) Знайти схожі
7.
S 143-2/195

    Ефименко, Людмила Павловна.
    Исследование материалов и покрытий методом атомно-силовой микроскопии / Л. П. Ефименко, В. А. Жабрев, К. Э. Пугачев ; Центр коллектив. пользования по исслед. наночастиц, наноструктур и нанокомпозитов, Ин-т химии силикатов РАН, Инновац.-технол. центр "Новые материалы и хим. технологии". - М. : Компания Спутник+, 2010. - 51 с. : ил. - ISBN 978-5-9973-0707-3 : 30.00 р.
ББК Ж304-1с341 + Ж366.04-1с341 + Л749-1с341
Рубрики: Материалы
   Микроскопия

   Защитные покрытия



Дод.точки доступу:
Жабрев, Валентин Александрович; Пугачев, Константин Эдуакрдович
Примірників всього: 2
ХР (2)
Свободны: ХР (2) Знайти схожі
8.
W 160-1/139

    Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур (г. Нижний Новгород). - М. : Техносфера, 2005. - 143 с. : ил. ; 22 см. - (Мир физики и техники ; II-02). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 : 90.00 р.
ББК В338.28я73-1
Рубрики: Микроскопия
   Микроскопы


Примірників всього: 1
ЧЗ (1)
Свободны: ЧЗ (1) Знайти схожі
9.
S 143-2/366

    Кочаков, Валерий Данилович.
    Основы атомно-силовой наноскопии : учеб. пособие / В. Д. Кочаков, А. В. Еремкин ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Чуваш. гос. ун-т им. И. Н. Ульянова. - Чебоксары : Изд-во Чуваш. ун-та, 2010. - 54, [1] с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 54. - ISBN 978-5-7677-1482-7 : 80.00 р.
ББК В338.28я73-1 + В371.215я73-1
Рубрики: Микроскопия


Дод.точки доступу:
Еремкин, Алексей Владимирович
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі
10.
W 161-8/248

    Грудин, Борис Николаевич.
    Обработка и моделирование микроскопических изображений / Б. Н. Грудин, В. С. Плотников. - Владивосток : Дальнаука, 2010. - 348, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 342-347. - ISBN 978-5-8044-1119-1 : 190.00 р.
ББК В342.8с31
Рубрики: Обработка изображений
   Микроскопия



Дод.точки доступу:
Плотников, Владимир Сергеевич
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі
11.
S 143-2/455

    Габдуллин, Павел Гарифович.
    Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия : [учеб. пособие для вузов по направлению подгот. магистров "Техн. физика"] / П. Г. Габдуллин, З. А. Костюченко, Н. И. Поречная. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2010. - 71 с. : ил. - (Приоритетный национальный проект "Образование" / М-во образования и науки Рос. Федерации, Нац. исслед. ун-т С.-Петерб. гос. политехн. ун-т) (Приоритетные национальные проекты. "Образование"). - Библиогр.: с. 65. - ISBN 978-5-7422-2892-9 : 50.00 р.
ББК Ж306.3-1с341.2
Рубрики: Наноструктурные материалы
   Микроскопия



Дод.точки доступу:
Костюченко, З.А.; Поречная, Н.И.
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі
12.
W 162-1/194

    Усанов, Дмитрий Александрович.
    Низкоразмерные резонаторы и их применение в ближнеполевой СВЧ-микроскопии / [Усанов Д. А., Горбатов С. С., Сорокин А. Н.]. - Балашов : Николаев, 2011. - 94 с. : ил. - Авт. указаны на обл. - Библиогр.: с. 74-84. - ISBN 978-5-94035-440-6 : 150.00 р.
ББК В342.8,0 + з848.2-041.7 + з845.7,0
Рубрики: Микроскопия
   Резонаторы

   Генераторы высокой частоты



Дод.точки доступу:
Горбатов, Сергей Сергеевич; Сорокин, Алексей Николаевич
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі
13.
W 162-5/162

    Власов, Андрей Игоревич.
    Оптическая микроскопия : учеб.-метод. комплекс по темат. направлению деятельности ННС "Наноинженерия": [учеб. пособие для вузов] / А. И. Власов, К. А. Елсуков, И. А. Косолапов ; под. ред. В. А. Шахнова. - М. : Изд-во МГТУ, 2011. - 181 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 12). - Библиогр.: с. 147-152. - ISBN 978-5-7038-3503-6 (кн. 12). - ISBN 978-5-7038-3509-8 : 150.00 р.
ББК В342.8я73-1
Рубрики: Микроскопия


Дод.точки доступу:
Елсуков, Кирилл Андреевич; Косолапов, Илья Алексеевич
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі
14.
W 162-7/164

    Власов, Андрей Игоревич.
    Методы микроскопии : [учеб. пособие для вузов по направлению 152200 "Наноинженерия"] / А. И. Власов, К. А. Елсуков, Ю. В. Панфилов ; под ред. В. А. Шахнова. - М. : Изд-во МГТУ, 2011. - 278 с. : ил. ; 22 см. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 1) (Комплект учебно-методических комплексов дисциплин по тематическому направлению деятельности национальной нанотехнологической сети "Наноинженерия"). - Библиогр.: с. 272-275. - ISBN 978-5-7038-3492-3. - ISBN 978-5-7038-3509-8 : 160.00 р.
ББК В342.8я73-1 + В371.21я73-1
Рубрики: Микроскопия
   Структурный анализ

   Нанотехнологии



Дод.точки доступу:
Елсуков, Кирилл Андреевич; Панфилов, Юрий Васильевич; Шахнов, Вадим Анатольевич \ред.\
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі
15.
W 162-8/39

    Феофанов, Алексей Валерьевич.
    Основы оптической микроскопии : учеб.-метод. комплекс для бакалавров по дисциплине / А. В. Феофанов. - М. : Ин-т АйТи, 2011. - 159, [2] с. : ил. ; 21 см. - (Учебно-методическое обеспечение для подготовки кадров по программам высшего профессионального образования для тематического направления ННС "Нанобиотехнологии") (Учебно-методическое обеспечение для подготовки бакалавров по программам высшего профессионального образования направления подготовки Нанотехнология с профилем подготовки Нанобиотехнологии). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-98453-041-5 : 80.00 р.
ББК Е072.0с251.3я73-1
Рубрики: Молекулярная биология
   Микроскопия


Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі
16.
W 162-8/40

    Феофанов, Алексей Валерьевич.
    Конфокальная микроскопия и микроспектроскопия : учеб.-метод. комплекс для магистров по дисциплине / А. В. Феофанов. - М. : Ин-т АйТи, 2011. - 141, [1] с. : ил. ; 21 см. - (Учебно-методическое обеспечение для подготовки кадров по программам высшего профессионального образования для тематического направления ННС "Нанобиотехнологии") (Учебно-методическое обеспечение для подготовки магистров по программам высшего профессионального образования направления подготовки "Нанотехнология" с профилем подготовки "Нанобиотехнологии"). - Библиогр. в конце частей. - ISBN 978-5-98453-021-7 : 80.00 р.
ББК Е072.0с251.34я73-1
Рубрики: Молекулярная биология
   Микроскопия

   Спектроскопия


Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі
17.
ПМ 1-1/128

   
    История микроскопа : [буклет] / Всесоюз. о-во "Знание", Политехн. музей ; [сост. Г. Н. Каменева]. - М. : Знание, 1975. - 1 л. (слож. в 8 с.) : ил. - 50.00 р.
ББК В342.8г(0)е(2)л61 + Ж.е(2)л61 + Ч774(2)76:В
Рубрики: Микроскопия
   Политехнические музеи--Политехнический музей (Москва)



Дод.точки доступу:
Каменева, Г.Н. \сост.\; Политехнический музей (Москва)
Примірників всього: 2
ХР (2)
Свободны: ХР (2) Знайти схожі
18.
S 143-4/368

    Нагорнов, Юрий Сергеевич.
    Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии : учеб. пособие / Нагорнов Ю. С., Ясников И. С., Тюрьков М. Н. ; М-во образования и науки РФ, Тольят. гос. ун-т. - Тольятти : ТГУ, 2012. - 58 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 57-58. - ISBN 978-5-88504-099-0 : 100.00 р.
ББК В338.28я73-1 + В342.8я73-1 + Ж304-1с341
Рубрики: Электронная микроскопия
   Микроскопия

   Материалы



Дод.точки доступу:
Ясников, Игорь Станиславович; Тюрьков, Максим Николаевич
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі
19.
W 112/9-242

    Суворов, Александр Леонидович.
    Микроскопия в науке и технике / А. Л. Суворов. - М. : Наука, 1981. - 135, [2]с., включая обл. : ил. - (Серия "Наука и технический прогресс" / Акад. наук СССР). - Библиогр.: с. 134-136. - 0.45 р.
ББК В342.8,0
Рубрики: Микроскопия

Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі
20.
W 168-4/117 ч. 1

   Филимонова, Нина Ивановна

    Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур: сканирующая зондовая микроскопия : [учеб. пособие] / Н. И. Филимонова, Б. Б. Кольцов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Новосиб. гос. техн. ун-т, [Фак. радиотехники и электроники]. - Новосибирск : Изд-во НГТУ, 2013 - .
   Ч. 1. - 2013. - 131, [2] с. : ил. - Библиогр.: с. 132. - ISBN 978-5-7782-2158-1 : 80.00 р.
ББК В338.28я73-1 + З844.1-01с341я73-1
Рубрики: Микроскопия
   Микроэлектроника



Дод.точки доступу:
Кольцов, Борис Борисович
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі
21.
W 168-4/230

    Вознесенский, Эмиль Фаатович.
    Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : учеб. пособие / Э. Ф. Вознесенский, Ф.С Шарифуллин, И. Ш. Абдуллин ; М-во образования и науки России, Казан. нац. исслед. технол. ун-т. - Казань : Изд-во КНИТУ, 2014. - 182, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 172-180. - ISBN 978-5-7882-1545-7 : 80.00 р.
ББК Ж304-1с341я73-1
Рубрики: Микроскопия


Дод.точки доступу:
Шарифуллин, Ф.С; Абдуллин, И.Ш.
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі
22.
W 168-5/87 ч. 2

   Величко, Александр Андреевич

    Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур : [учеб. пособие] / А. А. Величко, Н. И. Филимонова ; М-во образования Рос. Федерации, Новосиб. гос. техн. ун-т, [Фак. радиотехники и электроники] . - Новосибирск : НГТУ, - .
   Ч. 2. - 2014. - 225, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 221-222. - ISBN 978-5-7782-2534-3 : 80.00 р.
ББК В338.28я73-1 + З844.1-01с341я73-1
Рубрики: Микроскопия
   Микроэлектроника



Дод.точки доступу:
Филимонова, Нина Ивановна
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі
23.
S 143-6/389

    Кретушев, Александр Викторович.
    Обработка и анализ фазовых изображений : учеб. пособие / А. В. Кретушев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Моск. гос. техн. ун-т радиотехники, электроники и автоматики. - М. : ВНИИгеосистем, 2014. - 63 с. : ил. - Библиогр.: с. 61-63. - ISBN 978-5-8481-0182-9 : 70.00 р.
ББК В342.8,0
Рубрики: Обработка изображений
   Микроскопия


Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі
24.
W 168-10/204

    Андреева, Наталья Владимировна.
    Экспериментальные методы исследования. Методики туннельной и атомно-силовой микроскопии : [учеб. пособие для вузов по направлению подгот. бакалавров "Техн. физика"] / Н. В. Андреева, П. Г. Габдуллин, А. М. Журкин ; М-во образования и науки Рос. Федерации, С.-Петерб. гос. политехн. ун-т. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2015. - 103, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 102-103. - ISBN 978-5-7422-4647-3 : 80.00 р.
ББК В338.28я73-1
Рубрики: Микроскопия


Дод.точки доступу:
Габдуллин, Павел Гарифович; Журкин, Алексей Михайлович
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі
25.
W 169-6/20

    Тимченко, Елена Владимировна.
    Цифровая оптическая микроскопия : [учеб. пособие] / Е. В. Тимченко, П. Е. Тимченко ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т). - Самара : Изд-во СГАУ, 2015. - 103, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 103-104. - ISBN 978-5-7883-1003-9 : 70.00 р.
ББК В342.8я73-1
Рубрики: Микроскопия


Дод.точки доступу:
Тимченко, Павел Евгеньевич
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі
26.
1-1/22

    Quekett, John Thomas.
    Practisches Handbuch der Mikroskopie : Darstellung der Einrichtung, sowie practische Anleitung zur Aufstellung, Behandlung und zum Gebrauche des Mikroskopes, zum Präpariren und zur Untersuchung von Stoffen aus dem Thier-, Pflanzen- und Mineralreiche und der daraus dargestellten Producte : für Naturforscher, Aerzte, Techniker und für jeden anderen Gebildeten / von John Quekett; mit anderweitigen guten Hülfsmitteln deutsch bearb. von Carl Hartmann. - Weimar : Verlag, Druck und Lithographie von B. Fr. Voigt, 1850. - XIV, 688 S., 25 Taf. ill. - (Neuer Schauplatz der Künste und Handwerke : mit Berücksichtigung der Neuesten Erfindungen herausgegeben von einer Gesellschaft von Künstlern, Technologen und Professionisten ; bd. 180). - Б. ц. р.
Екслібрис:
Прим.44853: Бумажный ярлык, прямоугольный, 25 х 40, изображение 20 х 35, факсимильное воспроизведение рукописного текста, одноцветный, шрифтовой, с надписью в двойной линейной рамке: "В. А. Кипрiянова | Отдѣленiе... | №..." ;
Прим.44853: Штамп овальной формы: Библиотека Общества Любителей Естествознания, Антропологии и Этнографии (цвет: фиолетовый; размер: 3,4х5 см.) ;
Прим.44853: Штемпель, круглый, 25, шрифтовой, с надписью в линейной рамке: "БИБЛИОТЕКА ПОЛИТЕХН. МУЗЕЯ и О. Л. Е. А. Э."
ББК Б,0 + В342.8,0
Рубрики: Естествознание
   Микроскопия



Дод.точки доступу:
Hartmann, Carl \ред., пер.\
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі
27.
Ф 6-4/1 ч. 1

   Арсеньев, Павел Александрович

    Конструктивные биоматериалы : [учеб. пособие] / П. А. Арсеньев, М. С. Францышин, Н. А. Яштулов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Нац. исслед. ун-т "МЭИ". - М. : Изд-во МЭИ, 2015 - .
   Ч. 1 : Методы и приборы для измерения геометрических размеров имплантатов. - 2015. - 27 с. : ил. - Библиогр.: с. 26. - ISBN 978-5-7046-1606-1 : 80.00 р.
ББК В342.8я73-1
Рубрики: Микроскопия
   Микроскопы туннельные



Дод.точки доступу:
Францышин, Михаил Святославович; Яштулов, Николай Андреевич
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі
28.
S 143-9/379

   
    Статистический анализ микроструктуры поверхности сканирующим зондовым микроскопом / Макрушина А. Н., Зырянова А. И., Макаров С. В., Плотников В. А. - Барнаул : Колмогоров И. А., 2016. - 68 с. : ил. - ISBN 978-5-91556-315-4 : 70.00 р.
ББК В371.25c31я73-5
Рубрики: Микроскопия


Дод.точки доступу:
Макрушина, А. Н.; Зырянова, А. И.; Макаров, Сергей Викторович; Плотников, Владимир Александрович
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі
29.
S 143-9/471

    Панова, Татьяна Викторовна.
    Современные методы исследования вещества. Электронная и оптическая микроскопия : учеб. пособие / Т. В. Панова ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Ом. гос. ун-т им. Ф. М. Достоевского. - Омск : Изд-во Ом. гос. ун-та, 2016. - 78 с. : ил. - Библиогр.: с. 78. - ISBN 978-5-7779-2052-2 : 80.00 р.
ББК В338.28я73-1 + В342.8я73-1
Рубрики: Электронная микроскопия
   Микроскопия


Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі
30.
W 173-3/112

   
    Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : [учеб. пособие] / А. В. Ищенко, А. С. Вохминцев, И. И. Огородников, И. А. Вайнштейн ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Урал. федер. ун-т им. Б. Н. Ельцина, [Физ.-технол. ин-т]. - Екатеринбург : УрФУ, 2017. - 179 с. : ил. - Библиогр.: с. 167-168. - ISBN 978-5-321-02523-9 : 100.00 р.
ББК В338.28я73-1
Рубрики: Микроскопия
   Микроскопы



Дод.точки доступу:
Ищенко, Алексей Владимирович
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі
© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)