Политехническая библиотека

Головна

Спрощенний режим

Опис

Бази даних

Каталог книг- результати пошуку

Вид пошуку

Каталог книг

Каталог российских журналов

Каталог иностранных журналов

Зона пошуку

Для печати информации о книге отметьте ее галочкой и нажмите кнопку «печать»

Поисковый запрос: <.>S=Электронная микроскопия<.>

Общее количество найденных документов: 22

Показані документи с 1 за 22

N 16-9/137

Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : прогр. и материалы Третьего междунар. науч. семинара, 22-25 мая 2006г. / [сост. В. А. Ткаль, А. О. Окунев]. - Великий Новгород : НовГУ, 2006. - 306 с. : ил. - В надзаг.: Физ.-техн. ин-т им. А.Ф. Иоффе РАН, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Моск. гос. ун-т им. М.В. Ломоносова , Новгор. гос. ун-т им. Ярослава Мудрого. - Ч. текста англ. - Библиогр. в конце тр . - ISBN 5-89896-300-6 : Б. ц. р.

ББК В343.41я431(0) + В371.21с.я431(0) + В338.28я431(0)
Рубрики: Дифракция
Топография
Электронная микроскопия

Дод.точки доступу:
Ткаль, В.А. \сост.\; Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург)
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі

W 155-1/30

Синдо, Дайзуке.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава. - М. : Техносфера, 2006. - 249, [4] с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 236-238. - ISBN 5-94836-064-4 : Б. ц. р.

ББК В338.28,0
Рубрики: Электронная микроскопия

Дод.точки доступу:
Оикава, Тецуо
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі

N 17-2/154

Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : сб. материалов и программа первой междунар. науч. шк.-семинара, 21-25 мая 2007 г. / [сост. Ткаль В. А., Окунев А. О.]. - Великий Новгород : НовГУ, 2007. - 172 с. : ил. ; 30 см. - В надзаг.: Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе РАН, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Новгор. гос. ун-т им. Ярослава Мудрого. - Библиогр. в примеч. в конце докл. - ISBN 978-5-89896-340-8 : Б. ц. р.

ББК В371.21я431(0) + В371.213.4я431(0) + В338.28я431(0)
Рубрики: Дифракция
Электронная микроскопия

Дод.точки доступу:
Ткаль, Валерий Алексеевич \сост.\; Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург)
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі

W 157-7/84

Рид, С. Дж. Б.
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / С. Дж. Б. Рид; пер. с англ. Д. Б. Петрова [и др.]. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с., [4] л. ил. : ил. - (Мир наук о Земле). - Библиогр.: с. 205-215. - Предм. указ.: с. 216-219. - ISBN 978-5-94836-177-2 : 140.00 р., 365.82 р.

ББК Д3с22
Рубрики: Рентгеноспектральный анализ
Электронная микроскопия
Геология

Примірників всього: 3
ХР (2), ЧЗ (1)
Свободны: ХР (2), ЧЗ (1) Знайти схожі

W 159-2/168

Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : [учеб. пособие для вузов по направлениям "Металлургия" и "Физ. материаловедение"] / М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др. ; под общ. ред. М. М. Криштала]. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. ; 22 см. - (Мир физики и техники ; II-15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 125.00 р.

ББК В338.28я7-1 + В344-1я7-1
Рубрики: Электронная микроскопия
Рентгеноспектральный анализ

Дод.точки доступу:
Криштал, Михаил Михайлович; Ясников, Игорь Станиславович; Полунин, Виктор Иванович
Примірників всього: 2
ХР (1), ЧЗ (1)
Свободны: ХР (1), ЧЗ (1) Знайти схожі

W 161-4/223

Эгертон, Рэй Ф.
Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию / Р. Ф. Эгертон ; пер. с англ. С. А. Иванова. - М. : Техносфера, 2010. - 300 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 221-222. - ISBN 978-5-94836-254-0 : 190.00 р.

ББК В338.28,0
Рубрики: Электронная микроскопия

Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі

W 161-10/206 ч. 1

Физические основы наноэлектроники : [учеб.-метод. пособие по направлению 050200 "Физ.-мат. образование"] / А. Ю. Дашина, А. А. Лужков, И. О. Попова, И. И. Хинич ; Рос. гос. пед. ун-т им. А. И. Герцена. - СПб. : Изд-во РГПУ, 2010 - .
Ч. 1 : Сканирующая зондовая микроскопия. - 2010. - 86 с. : ил. - Библиогр.: с. 85-86. - ISBN 978-5-8064-1645-3 : 60.00 р.

ББК з844.1-01я73-1 + В338.28я73-1
Рубрики: Микроэлектроника
Электронная микроскопия

Дод.точки доступу:
Дашина, А.Ю.; Лужков, А.А.; Попова, И.О.; Хинич, И.И.
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі

W 162-7/163

Власов, Андрей Игоревич.
Электронная микроскопия : [учеб. пособие для вузов по направлению 152200 "Наноинженерия"] / А. И. Власов, К. А. Елсуков, И. А. Косолапов ; под ред. В. А. Шахнова. - М. : Изд-во МГТУ, 2011. - 167 с. : ил. ; 22 см. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 11) (Комплект учебно-методических комплексов дисциплин по тематическому направлению деятельности национальной нанотехнологической сети "Наноинженерия"). - Библиогр.: с. 160-164. - ISBN 978-5-7038-3502-9. - ISBN 978-5-7038-3509-8 : 120.00 р.

ББК В338.28я73-1 + В371.21я73-1
Рубрики: Электронная микроскопия
Структурный анализ
Нанотехнологии

Дод.точки доступу:
Елсуков, Кирилл Андреевич; Косолапов, Илья Алексеевич; Шахнов, Вадим Анатольевич \ред.\
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі

W 162-8/37

Соколова, Ольга Сергеевна.
Электронная микроскопия нанобиообъектов : учеб.-метод. комплекс для магистров по дисциплине / О. С. Соколова, А. Г. Богданов, А. В. Гризель. - М. : Ин-т АйТи, 2011. - 140, [2] с., [2] л. ил. : ил. ; 21 см. - (Учебно-методическое обеспечение для подготовки магистров по программам высшего профессионального образования направления подготовки "Нанотехнология" с профилем подготовки "Нанобиотехнологии") (Учебно-методическое обеспечение для подготовки кадров по программам высшего профессионального образования для тематического направления ННС "Нанобиотехнологии"). - Библиогр.: с. 5, 62. - ISBN 978-5-98453-042-2 : 80.00 р.

ББК Е072.0с251.34я73-1
Рубрики: Электронная микроскопия
Молекулярная биология

Дод.точки доступу:
Богданов, Анатолий Георгиевич; Гризель, Анастасия Владимировна
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі

10.

W 163-1/259

Фульц, Брент.
Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Б. Фульц, Дж. М. Хау ; пер. с англ. В. И. Даниленко под ред. А. В. Мохова. - М. : Техносфера, 2011. - 903 с. : ил. ; 25 см. - (Мир физики и техники ; II-23). - Библиогр.: с. 805-820. - Предм. указ.: с. 883-903. - ISBN 978-5-94836-291-5 : 600.00 р.

ББК Ж3-1с341.2 + В371.214,0 + В371.215,0
Рубрики: Электронная микроскопия
Дифрактометры

Дод.точки доступу:
Хау, Джеймс М; Мохов, А.В. \ред.\; Даниленко, В.И. \пер.\
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі

11.

S 143-4/368

Нагорнов, Юрий Сергеевич.
Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии : учеб. пособие / Нагорнов Ю. С., Ясников И. С., Тюрьков М. Н. ; М-во образования и науки РФ, Тольят. гос. ун-т. - Тольятти : ТГУ, 2012. - 58 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 57-58. - ISBN 978-5-88504-099-0 : 100.00 р.

ББК В338.28я73-1 + В342.8я73-1 + Ж304-1с341
Рубрики: Электронная микроскопия
Микроскопия
Материалы

Дод.точки доступу:
Ясников, Игорь Станиславович; Тюрьков, Максим Николаевич
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі

12.

S 143-5/338 ч. 1

   Васичев, Борис Никитович
    Инновационное развитие электронной техники : [учеб. пособие] : в 2 ч. / Б. Н. Васичев, И. Н. Савченкова ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Рос. экон. ун-т им. Г. В. Плеханова. - М. : РЭУ, 2013 - . - ISBN 978-5-7307-0941-6.
   Ч. 1 : Электронная микроскопия. - 2013. - 60 с. : ил. - Библиогр.: с. 59-60. - ISBN 978-5-7307-0910-2 : 80.00 р.

ББК з85я73-1 + В338.28я73-1
Рубрики: Электронные приборы
Электронная микроскопия

Дод.точки доступу:
Савченкова, Ирина Николаевна
Примірників всього: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1) Знайти схожі

13.

W 167-7/141 т. 1

Российская конф. по электронной микроскопии (25 ; 2014 ; Черноголовка).
XXV Российская конференция по электронной микроскопии и 2-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов" : РКЭМ-2014, 2 июня-6 июня 2014 г. : тез. докл. - Черноголовка : ИПТМ РАН, 2013 - . - В надзаг.: Рос. акад. наук, Науч. совет РАН по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектронники и особочистых материалов Рос. акад. наук, Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова Рос. акад. наук.
Т. 1. - 2013. - XVI, 339, [9] с. : ил. - Библиогр. в конце докл. - ISBN 978-5-89589-069-1 : 180.00 р.

ББК В338.28я431(2)
Рубрики: Электронная микроскопия

Дод.точки доступу:
Российская конф. по электронной микроскопии(25 ; 2014 ; Черноголовка); Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов(2 ; 2014 ; Черноголовка)
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі

14.

W 167-7/141 т. 2

Российская конф. по электронной микроскопии (25 ; 2014 ; Черноголовка).
XXV Российская конференция по электронной микроскопии и 2-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов" : РКЭМ-2014, 2 июня-6 июня 2014 г. : тез. докл. - Черноголовка : ИПТМ РАН, 2013 - . - В надзаг.: Рос. акад. наук, Науч. совет РАН по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектронники и особочистых материалов Рос. акад. наук, Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова Рос. акад. наук.
Т. 2. - 2013. - XV, с. 343-662 : ил. - Библиогр. в конце докл. - ISBN 978-5-89589-069-1 : 180.00 р.

15.

W 167-7/179

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / [Б. Л. Адамс, Н. Р. Бартон, Д. В. Бернье и др.] ; под ред. А. Шварца [и др.] ; пер. с англ. С. А. Иванова. - М. : Техносфера, 2014. - 559 с., [52] л. ил. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 32). - Авт. указаны на с. [16]. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 533-545. - ISBN 978-5-94836-385-1 : 400.00 р.

ББК Ж304-1с341 + В371.213.4,0
Рубрики: Дифракция
Электронная микроскопия

Дод.точки доступу:
Адамс, Брент Л.; Бартон, Натан Р.; Бернье, Джоел В.; Шварц, А. \ред.\; Иванов, С. А. \пер.\
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі

16.

W 171-5/161 т. 1

Российская конференция по электронной микроскопии (26 ; 2016 ; Москва / Зеленоград).
XXVI Российская конференция по электронной микроскопии и 4-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов" : в рамках Междунар. форума "Техноюнити-РКЭМ-2016" : г. Москва, Зеленоград, 30 мая-3 июня 2016 г. : тез. докл. / "Техноюнити-РКЭМ-2016", международный форум (Москва / Зеленоград). - [Черноголовка] : ИПТМ, 2016 - . - В надзаг.: Науч. совет РАН по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Рос. акад. нуак, Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова Рос. Акад. наук и др. - ISBN 978-5-89589-093-6.
Т. 1. - 2016. - XVIII, 377, [10] с. - Алф. указ.: с. 378-388. - ISBN 978-5-89589-094-3 : 180.00 р.

ББК В338.28я431(2)
Рубрики: Электронная микроскопия

Дод.точки доступу:
Российская конференция по электронной микроскопии(26 ; 2016 ; Москва / Зеленоград); "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов", школа молодых ученых(4 ; 2016 ; Москва / Зеленоград); "Техноюнити-РКЭМ-2016", международный форум(Москва / Зеленоград)
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі

17.

W 171-5/161 т. 2

Российская конференция по электронной микроскопии (26 ; 2016 ; Москва / Зеленоград).
XXVI Российская конференция по электронной микроскопии и 4-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов" : в рамках Междунар. форума "Техноюнити-РКЭМ-2016" : г. Москва, Зеленоград, 30 мая-3 июня 2016 г. : тез. докл. / "Техноюнити-РКЭМ-2016", международный форум (Москва / Зеленоград). - [Черноголовка] : ИПТМ, 2016 - . - В надзаг.: Науч. совет РАН по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Рос. акад. нуак, Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова Рос. Акад. наук и др. - ISBN 978-5-89589-093-6.
Т. 2. - 2016. - XVIII, С. 379-755, [10] : ил. - Алф. указ.: с. 755-765. - ISBN 978-5-89589-095-0 : 180.00 р.

18.

W 172-5/52

Мишура, Тамара Прохоровна.
Сканирующая микроскопия : учеб. пособие / Т. П. Мишура, А. Г. Грабарь ; М-во образования и науки Рос. Федерации, С.-Петерб. гос. ун-т аэрокосм. приборостроения. - СПб. : ГУАП, 2016. - 174, [2] с. : ил. - Библиогр.: с. 174. - ISBN 978-5-8088-1150-8 : 100.00 р.

ББК В338.28я73-1
Рубрики: Электронная микроскопия

Дод.точки доступу:
Грабарь, Анатолий Григорьевич
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі

19.

W 172-6/249

Есеев, Марат Каналбекович.
Методы диагностики микро- и наносистем : учеб. пособие / М. К. Есеев, С. Н. Капустин, А. А. Гошев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Сев. (Аркт.) федер. ун-т им. М. В. Ломоносова. - Архангельск : КИРА, 2016. - 135 с. : ил. - Библиогр.: с. 134. - ISBN 978-5-98450-475-1 : 80.00 р.

ББК В338.28я73-1 + В372.6с1я73-1
Рубрики: Электронная микроскопия
Наноструктуры

Дод.точки доступу:
Капустин, Сергей Николаевич; Гошев, Андрей Александрович
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі

20.

S 143-9/471

Панова, Татьяна Викторовна.
Современные методы исследования вещества. Электронная и оптическая микроскопия : учеб. пособие / Т. В. Панова ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Ом. гос. ун-т им. Ф. М. Достоевского. - Омск : Изд-во Ом. гос. ун-та, 2016. - 78 с. : ил. - Библиогр.: с. 78. - ISBN 978-5-7779-2052-2 : 80.00 р.

ББК В338.28я73-1 + В342.8я73-1
Рубрики: Электронная микроскопия
Микроскопия

Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі

21.

W 173-3/45

Сазанова, Татьяна Сергеевна.
Атомно-силовая микроскопия: принцип, устройство, применение / Т. С. Сазанова, И. В. Воротынцев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Нижегор. гос. техн. ун-т им. Р. Е. Алексеева. - Н. Новгород : НГТУ, 2016. - 107 с. : ил. - Библиогр.: с. 102-107. - ISBN 978-5-502-00829-7 : 80.00 р.

ББК В338.28я73-1 + К204.011.1я73-1
Рубрики: Электронная микроскопия
Металлы--Рентгенографический анализ

Дод.точки доступу:
Воротынцев, Илья Владимирович
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі

22.

W 173-7/116

Учебно-методическое пособие по электронной микроскопии / А. И. Морозова, Д. А. Колесников, С. В. Жеребцов, А. Н. Беляков ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Белгор. гос. нац. исслед. ун-т. - Белгород : Эпицентр, 2017. - 123, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 120. - ISBN 978-5-9500375-0-4 : 80.00 р.

ББК В338.28я73-1
Рубрики: Электронная микроскопия

Дод.точки доступу:
Морозова, Анна Игоревна; Колесников, Дмитрий Александрович; Жеребцов, Сергей Валерьевич; Беляков, Андрей Николаевич
Примірників всього: 1
ХР (II) (1)
Свободны: ХР (II) (1) Знайти схожі

© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)