Пантелеев, В. Компьютерная микроскопия / В. Пантелеев, О. Егорова, Е. Клыкова. - М. : Техносфера, 2005. - 303 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 302-303. - 2000 прим.. - ISBN 5-94836-025-3 : Б. ц. р.
Маев, Роман Григорьевич. Акустическая микроскопия / Р. Г. Маев. - М. : Торус Пресс, 2005. - 383 с. : ил. - Библиогр.: с. 326-379. - 400 прим.. - ISBN 5-94588-031-0 : Б. ц. р., Б.ц р.
Кларк, Эшли Р. Микроскопические методы исследования материалов / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженова ; Рос. акад. наук, Ин-т синтет. полимер. материалов им. Н. С. Ениколопова. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил. ; 25 см. - (Мир материалов и технологий ; VI-13). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-121-5 : Б. ц. р.
Егорова, Ольга Владимировна. Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей / О. В. Егорова. - Изд. 2-е, перераб. - М. : Техносфера, 2007. - 357 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 355-357. - ISBN 978-5-94836-129-1 : 290.03 р., Б. ц. р.
Stehli, Georg. Mikroskopie für Jedermann. Eine methodische erste Einführungin die Mikroskopie mit praktischen Übungen : zugleich eine Anleitung Gebrauch des Kosmos-Arbeitskasterns "Mikroskopie" / G. Stehli. - Stuttgart : Franckh'sche, cop. 1934. - 73 S. : il. - (Handbücher für die praktische naturwissensch/ Arbeit. ; Bd. 1 ). - Библиогр.: с. 68-70. - 708.00 р.
Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур (г. Нижний Новгород). - М. : Техносфера, 2009. - 143 с. : ил. ; 22 см. - (Мир физики и техники ; II-02). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 978-5-94836-236-6 : 90.00 р.
Ефименко, Людмила Павловна. Исследование материалов и покрытий методом атомно-силовой микроскопии / Л. П. Ефименко, В. А. Жабрев, К. Э. Пугачев ; Центр коллектив. пользования по исслед. наночастиц, наноструктур и нанокомпозитов, Ин-т химии силикатов РАН, Инновац.-технол. центр "Новые материалы и хим. технологии". - М. : Компания Спутник+, 2010. - 51 с. : ил. - ISBN 978-5-9973-0707-3 : 30.00 р.
Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур (г. Нижний Новгород). - М. : Техносфера, 2005. - 143 с. : ил. ; 22 см. - (Мир физики и техники ; II-02). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 : 90.00 р.
Кочаков, Валерий Данилович. Основы атомно-силовой наноскопии : учеб. пособие / В. Д. Кочаков, А. В. Еремкин ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Чуваш. гос. ун-т им. И. Н. Ульянова. - Чебоксары : Изд-во Чуваш. ун-та, 2010. - 54, [1] с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 54. - ISBN 978-5-7677-1482-7 : 80.00 р.
Грудин, Борис Николаевич. Обработка и моделирование микроскопических изображений / Б. Н. Грудин, В. С. Плотников. - Владивосток : Дальнаука, 2010. - 348, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 342-347. - ISBN 978-5-8044-1119-1 : 190.00 р.
Габдуллин, Павел Гарифович. Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия : [учеб. пособие для вузов по направлению подгот. магистров "Техн. физика"] / П. Г. Габдуллин, З. А. Костюченко, Н. И. Поречная. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2010. - 71 с. : ил. - (Приоритетный национальный проект "Образование" / М-во образования и науки Рос. Федерации, Нац. исслед. ун-т С.-Петерб. гос. политехн. ун-т) (Приоритетные национальные проекты. "Образование"). - Библиогр.: с. 65. - ISBN 978-5-7422-2892-9 : 50.00 р.
Усанов, Дмитрий Александрович. Низкоразмерные резонаторы и их применение в ближнеполевой СВЧ-микроскопии / [Усанов Д. А., Горбатов С. С., Сорокин А. Н.]. - Балашов : Николаев, 2011. - 94 с. : ил. - Авт. указаны на обл. - Библиогр.: с. 74-84. - ISBN 978-5-94035-440-6 : 150.00 р.
Дод.точки доступу: Горбатов, Сергей Сергеевич; Сорокин, Алексей Николаевич
Примірників всього: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1)
W 162-5/162
Власов, Андрей Игоревич. Оптическая микроскопия : учеб.-метод. комплекс по темат. направлению деятельности ННС "Наноинженерия": [учеб. пособие для вузов] / А. И. Власов, К. А. Елсуков, И. А. Косолапов ; под. ред. В. А. Шахнова. - М. : Изд-во МГТУ, 2011. - 181 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 12). - Библиогр.: с. 147-152. - ISBN 978-5-7038-3503-6 (кн. 12). - ISBN 978-5-7038-3509-8 : 150.00 р.
Власов, Андрей Игоревич. Методы микроскопии : [учеб. пособие для вузов по направлению 152200 "Наноинженерия"] / А. И. Власов, К. А. Елсуков, Ю. В. Панфилов ; под ред. В. А. Шахнова. - М. : Изд-во МГТУ, 2011. - 278 с. : ил. ; 22 см. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 1) (Комплект учебно-методических комплексов дисциплин по тематическому направлению деятельности национальной нанотехнологической сети "Наноинженерия"). - Библиогр.: с. 272-275. - ISBN 978-5-7038-3492-3. - ISBN 978-5-7038-3509-8 : 160.00 р.
Феофанов, Алексей Валерьевич. Основы оптической микроскопии : учеб.-метод. комплекс для бакалавров по дисциплине / А. В. Феофанов. - М. : Ин-т АйТи, 2011. - 159, [2] с. : ил. ; 21 см. - (Учебно-методическое обеспечение для подготовки кадров по программам высшего профессионального образования для тематического направления ННС "Нанобиотехнологии") (Учебно-методическое обеспечение для подготовки бакалавров по программам высшего профессионального образования направления подготовки Нанотехнология с профилем подготовки Нанобиотехнологии). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-98453-041-5 : 80.00 р.
Феофанов, Алексей Валерьевич. Конфокальная микроскопия и микроспектроскопия : учеб.-метод. комплекс для магистров по дисциплине / А. В. Феофанов. - М. : Ин-т АйТи, 2011. - 141, [1] с. : ил. ; 21 см. - (Учебно-методическое обеспечение для подготовки кадров по программам высшего профессионального образования для тематического направления ННС "Нанобиотехнологии") (Учебно-методическое обеспечение для подготовки магистров по программам высшего профессионального образования направления подготовки "Нанотехнология" с профилем подготовки "Нанобиотехнологии"). - Библиогр. в конце частей. - ISBN 978-5-98453-021-7 : 80.00 р.
История микроскопа : [буклет] / Всесоюз. о-во "Знание", Политехн. музей ; [сост. Г. Н. Каменева]. - М. : Знание, 1975. - 1 л. (слож. в 8 с.) : ил. - 50.00 р.
Нагорнов, Юрий Сергеевич. Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии : учеб. пособие / Нагорнов Ю. С., Ясников И. С., Тюрьков М. Н. ; М-во образования и науки РФ, Тольят. гос. ун-т. - Тольятти : ТГУ, 2012. - 58 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 57-58. - ISBN 978-5-88504-099-0 : 100.00 р.
Дод.точки доступу: Ясников, Игорь Станиславович; Тюрьков, Максим Николаевич
Примірників всього: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1)
W 112/9-242
Суворов, Александр Леонидович. Микроскопия в науке и технике / А. Л. Суворов. - М. : Наука, 1981. - 135, [2]с., включая обл. : ил. - (Серия "Наука и технический прогресс" / Акад. наук СССР). - Библиогр.: с. 134-136. - 0.45 р.
W 168-4/117 ч. 1 Филимонова, Нина Ивановна Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур: сканирующая зондовая микроскопия : [учеб. пособие] / Н. И. Филимонова, Б. Б. Кольцов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Новосиб. гос. техн. ун-т, [Фак. радиотехники и электроники]. - Новосибирск : Изд-во НГТУ, 2013 - . Ч. 1. - 2013. - 131, [2] с. : ил. - Библиогр.: с. 132. - ISBN 978-5-7782-2158-1 : 80.00 р.