Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем-2005 [] : всерос. науч.-техн. конф., 11-14 окт. 2005 г. : [МЭС-2005] : сб. тр. / [под общ. ред. А. Л. Стемпковского]. - М. : Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике, 2005. - 537 с. : ил. ; 29 см. - На тит. л. и обл.: Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. - Библиогр. в конце докл. - Имен. указ.: с. 536-537. - ISBN 5-9900299-2-6 : Б. ц. р.
Дод.точки доступу: Стемпковский, АлександрЛеонидович \ред.\; Институт проблем проектирования в микроэлектронике (Москва)
Примірників всього: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1)
N 16-10/173
Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем-2006 : II всерос. науч.-техн. конф. : сб. тр. / [под общ. ред. А. Л. Стемпковского]. - М. : ИППМ РАН, печ. 2006. - 452 с. : ил. - В надзаг.: Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. - Библиогр. в конце тр . - ISBN 5-9900299-6-9 : Б. ц. р.
Дод.точки доступу: Стемпковский, АлександрЛеонидович \ред.\; Институт проблем проектирования в микроэлектронике (Москва)
Примірників всього: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2)
W 156-9/100
Стемпковский, АлександрЛеонидович. Методы логического и логико-временного анализа цифровых КМОП СБИС / А. Л. Стемпковский, С. В. Гаврилов, А. Л. Глебов ; под. общ. ред. А. Л. Стемпковского; Рос. акад. наук, Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике. - М. : Наука, 2007. - 217, [2] с. : ил. - Библиогр.: с. 212-218. - ISBN 978-5-02-036119-5 : Б. ц. р.
Дод.точки доступу: Гаврилов, Сергей Витальевич; Глебов, Алексей Львович
Примірників всього: 2 ХР (1), ЧЗ (1) Свободны: ХР (1), ЧЗ (1)
N 17-6/103
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем-2008 : [МЭС-2008] : III всерос. науч.-техн. конф. [6-10 окт. 2008 г.] : сб. тр. / [под общ. ред. А. Л. Стемпковского]. - М. : Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике, 2008. - 550 с. : ил. ; 29 см. - На обл.: Рос. акад. наук, Ин-т прорблем проектирования в микроэлектронике РАН. - Библиогр. в конце докл. - Имен. указ. авт. ст.: с. 549-550. - ISBN 978-5-903559-10-7 : 200.00 р.
Дод.точки доступу: Стемпковский, АлександрЛеонидович \ред.\; Институт проблем проектирования в микроэлектронике (Москва)
Примірників всього: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1)
N 18-1/184
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем-2010 : [МЭС-2010] : IV всерос. науч.-техн. конф. [04-08 окт. 2010 г.] : сб. тр. / [под общ. ред. А. Л. Стемпковского]. - М. : Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике, 2010. - 694 с. : ил. - На обл.: Рос. акад. наук, Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике РАН. - Библиогр. в конце докл. - ISBN 978-5-903559-26-8 : 250.00 р.
Дод.точки доступу: Стемпковский, АлександрЛеонидович \ред.\; Институт проблем проектирования в микроэлектронике (Москва)
Примірників всього: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1)
N 18-6/182
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем-2012 : [МЭС-2012] : V всерос. науч.-техн. конф. [08-12 окт. 2012 г.] : сб. тр. / [под общ. ред. А. Л. Стемпковского]. - М. : Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике, 2012. - 716 с. : ил. - На обл.: Рос. акад. наук, Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике. - Библиогр. в конце докл. - ISBN 978-5-903559-38-1 : 250.00 р.
Дод.точки доступу: Стемпковский, АлександрЛеонидович \ред.\; Институт проблем проектирования в микроэлектронике (Москва)
Примірників всього: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1)
N 19-1/95 ч. 2
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014 : МЭС-2014 : VI Всерос. науч.-техн. конф., 29 сент. - 03 окт. 2014 г., [Москва (Зеленоград)] : сб. тр. / [под общ. ред. А. Л. Стемпковского]. - М. : ИППМ, 2014 - . - В надзаг. : Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук.-Без тит. л. Описание сост. по обл. Ч. 2 : Верификация и тестирование на верхнем уровне. Приборно-технологическое моделирование. - 2014. - 206 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-903559-47-3 : 170.00 р.
Дод.точки доступу: Стемпковский, АлександрЛеонидович \ред.\; Институт проблем проектирования в микроэлектронике(Москва)
Примірників всього: 1 ХР (II) (1) Свободны: ХР (II) (1)
N 19-1/95 ч. 1
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014 : МЭС-2014 : VI Всерос. науч.-техн. конф., 29 сент. - 03 окт. 2014 г., [Москва (Зеленоград)] : сб. тр. / [под общ. ред. А. Л. Стемпковского]. - М. : ИППМ, 2014 - . - В надзаг. : Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук.-Без тит. л. Описание сост. по обл. Ч. 1 : Моделирование характеристик СБИС. - 2014. - 190 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-903559-46-6 : 170.00 р.
Дод.точки доступу: Стемпковский, АлександрЛеонидович \ред.\; Институт проблем проектирования в микроэлектронике(Москва)
Примірників всього: 1 ХР (II) (1) Свободны: ХР (II) (1)
N 19-1/95 ч. 4
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014 : МЭС-2014 : VI Всерос. науч.-техн. конф., 29 сент. - 03 окт. 2014 г., [Москва (Зеленоград)] : сб. тр. / [под общ. ред. А. Л. Стемпковского]. - М. : ИППМ, 2014 - . - В надзаг. : Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук.-Без тит. л. Описание сост. по обл. Ч. 4 : Проектирование цифровых функциональных блоков СБИС и систем на кристалле. Цифровая обработка сигналов. Нетрадиционная арифметика. - 2014. - 195 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-903559-49-7 : 170.00 р.
Дод.точки доступу: Стемпковский, АлександрЛеонидович \ред.\; Институт проблем проектирования в микроэлектронике(Москва)
Примірників всього: 1 ХР (II) (1) Свободны: ХР (II) (1)
N 19-1/95 ч. 3
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014 : МЭС-2014 : VI Всерос. науч.-техн. конф., 29 сент. - 03 окт. 2014 г., [Москва (Зеленоград)] : сб. тр. / [под общ. ред. А. Л. Стемпковского]. - М. : ИППМ, 2014 - . - В надзаг. : Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук.-Без тит. л. Описание сост. по обл. Ч. 3 : Проектирование аналоговых и смешанных функциональных блоков СБИС. Проектирование радиационно-стойких СБИС. - 2014. - 210 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-903559-48-0 : 170.00 р.
Дод.точки доступу: Стемпковский, АлександрЛеонидович \ред.\; Институт проблем проектирования в микроэлектронике(Москва)
Примірників всього: 1 ХР (II) (1) Свободны: ХР (II) (1)
N 19-10/261 ч. 1
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. языке VII всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 / [редкол.: А. Л. Стемпковский (гл. ред.) и др.]. - М. : ИППМ, 2017 - . - ISBN 978-5-94627-114-1. Ч. 1. - 2017. - VIII, 71 с. : ил. - Текст англ. - Библиогр. в конце тр.- Описание сост. по обл. - ISBN 978-5-94627-124-0 : 150.00 р.
Дод.точки доступу: Стемпковский, АлександрЛеонидович \ред.\; Институт проблем проектирования в микроэлектронике(Москва)
Примірників всього: 1 ХР (II) (1) Свободны: ХР (II) (1)
N 19-10/261 ч. 2
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. языке VII всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 / [редкол.: А. Л. Стемпковский (гл. ред.) и др.]. - М. : ИППМ, 2017 - . - ISBN 978-5-94627-114-1. Ч. 2. - 2017. - VI, 72 с. : ил. - Текст англ. - Библиогр. в конце тр.- Описание сост. по обл. - ISBN 978-5-94627-125-7 : 150.00 р.
Дод.точки доступу: Стемпковский, АлександрЛеонидович \ред.\; Институт проблем проектирования в микроэлектронике(Москва)
Примірників всього: 1 ХР (II) (1) Свободны: ХР (II) (1)
N 19-10/261 ч. 3
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. языке VII всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 / [редкол.: А. Л. Стемпковский (гл. ред.) и др.]. - М. : ИППМ, 2017 - . - ISBN 978-5-94627-114-1. Ч. 3. - 2017. - VI, 72 с. : ил. - Текст англ. - Библиогр. в конце тр.- Описание сост. по обл. - ISBN 978-5-94627-126-4 : 150.00 р.
Дод.точки доступу: Стемпковский, АлександрЛеонидович \ред.\; Институт проблем проектирования в микроэлектронике(Москва)
Примірників всього: 1 ХР (II) (1) Свободны: ХР (II) (1)
N 19-10/261 ч. 4
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. языке VII всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 / [редкол.: А. Л. Стемпковский (гл. ред.) и др.]. - М. : ИППМ, 2017 - . - ISBN 978-5-94627-114-1. Ч. 4. - 2017. - VI, 67 с. : ил. - Текст англ. - Библиогр. в конце тр.- Описание сост. по обл. - ISBN 978-5-94627-127-1 : 150.00 р.
Дод.точки доступу: Стемпковский, АлександрЛеонидович \ред.\; Институт проблем проектирования в микроэлектронике(Москва)
Примірників всього: 1 ХР (II) (1) Свободны: ХР (II) (1)